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產(chǎn)品中心三維X射線顯微鏡（XRM）D8 X射線衍射儀高分辨薄膜X射線衍射儀
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高分辨薄膜X射線衍射儀檢測
| 項目 | 細(xì)則 | 收費(fèi) | 說明 |
| Rocking Curve | 單一圖譜，30min 以內(nèi)；若超 過 30min，延長時間按240元 /30min計，不足30min 按 30min計； 薄膜帶襯底材料的薄膜或帶 基材的鍍層等原始形狀，厚 度≤1mm，直徑≤2cm | 240元/樣 | 1.長時間數(shù)據(jù)手機(jī)（大于5h）、復(fù)雜樣品等特殊測試，價格需面議； 2.原位測試需提供測試方法 |
| 2Theta/Omega Scan | 對稱掃描單一圖譜，30min 以 內(nèi)；掃描時間大于 30min，延 長時間按240元/30min，不足 30min 按 30min 計 | 240元/樣 | |
| 2Theta/Omega Scan | 不對稱掃描單一圖譜，30min 以內(nèi)；掃描時間大于 30min， 延長時間按 240元/30min計，不足 30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
| Skew Scan | 不對稱掃描單一圖譜，30min 以內(nèi)；掃描時間大于 30min， 延長時間按 240 元/30min計，不足 30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
| XRR | 單一圖譜，30min 以內(nèi)；掃描 時間大于 30min，延長時間按240 元 /30min計，不足30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
| GID | 單一圖譜，30min 以內(nèi)；掃描 時間大于 30min，延長時間按240 元 /30min計，不足30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
| Phi Scan | Phi 掃描單一圖譜，30min 以 內(nèi)；掃描時間大于30min，延長時間按 240元/30min計，不足 30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
| RSM | 單點(diǎn)倒易空間 mapping 單一圖譜，30min 以內(nèi)；掃描時間 大于 30min，延長時間按240元/30min計，不足30min 按 30min 計 | 400元/樣 | |
| 低溫測試 | 包含 2 個溫度點(diǎn)，第二點(diǎn)后， 240 元/ 測試點(diǎn)；低溫測試液氮另加30元/時 | 900元/樣 |
儀器功能特點(diǎn)：
1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuǎn)靶光源，強(qiáng)度是封閉靶的5倍；
2- 入射光路三光路自動切換系統(tǒng)：粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路；高分辨光路：高分辨毛細(xì)管透射、反射、外延薄膜高分辨；
3- 探測器的開口大，適合測試速度快原位；配置準(zhǔn)直器后開展二維衍射實(shí)時分析，還原原位二維信息；配備的高低溫系統(tǒng)可實(shí)時檢測反應(yīng)中結(jié)構(gòu)的演變過程；
4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準(zhǔn)確地追溯揭示了phase transformation過程。
應(yīng)用范圍：
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化，這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段；
科研支撐
變溫物相分析
變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學(xué)分析
分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。
產(chǎn)業(yè)支撐
藥物作用機(jī)理及動力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩(wěn)定性分析。
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